SEM-EM8100F
-
SEM-EM8100F, skiriamoji geba 1nm@30kV (SE), padidinimas 15x-800, 000x
Tai naujovinta EM8000 versija su atnaujintu „E-Beam“ vamzdelio pagreičiu, įvairiu vakuumo režimu, galima stebėti nelaidų mėginį esant žemai įtampai be purškimo, paprasta, patogi ir draugiška operacinė sistema, kelių plėtinių pertvarkymo planas. Tai taip pat pirmasis FEG SEM, kurio skiriamoji geba yra 1 nm (30 kV).
